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■コグネックス/新世代ウェハーリーダ「In-Sight1740シリーズ」を発表
コグネックス、新世代ウェハーリーダ「In-Sight? 1740シリーズ」を発表
〜2倍の処理能力と読み取り性能向上で、読み取り時間を40%短縮!〜 〜サファイアウェハーにも初めて対応し、効率的なLED製造をサポート〜
コグネックス株式会社(本社 東京都文京区、代表取締役社長 島 清史)は、本日、新世代のウェハーIDリーダIn-Sight 1740とその付属ソフトウェアであるIn-Sight Explorer Wafer ID のバージョン 4.5.0 を発表しました。 この新しい製品群「In-Sight 1740シリーズ」は、幅広いウェハー処理工程や装置において、リーダの設定とメンテナンスがより簡単になったばかりでなく、読み取り率と信頼性を大きく向上させるための機能が搭載されました。 これらの機能を組み合わせることにより、装置の稼働効率を上げ、さらに、ウェハーIDの設定においてもオペレータの介入が必要なくなりました。また、 「In-Sight 1740シリーズ」は、従来のシリコンウェハーだけでなく、LEDに使われるサファイアウェハーにも対応します。 半導体業界では、生産装置を最大限に活用して不良品ゼロを達成するために、益々複雑になるプロセスを厳しく管理することが求められています。特に製造の全工程にわたるウェハー追跡に対するニーズは、コストの面でも非常に重要となっています。このような背景のもと、「In-Sight 1740 シリーズ」は、半導体業界においてトップシェアであり業界標準となっている当社のウェハーIDリーダ製品群をさらに強力にする新世代製品として開発され、自動チューニング機能を含むさまざまなアップグレードや、ウェハーIDの劣化にも対応可能な当社独自開発の自動画像改善フィルタリング機能を搭載するなど、より信頼性の高いソリューションを提供します。
<In-Sight 1740シリーズの特長>

処理能力強化により、読み取り時間を40%短縮「In-Sight 1740シリーズ」ウェハーリーダでは、処理速度が向上したことにより、新しい自動チューニング機能のメリットが活かせます。この新機能は、最も読み取りが難しいマークでも、エラーを発生させないように自動的に読み取り率を大幅に高めることができ、これまで以上に信頼性の高い読み取りを提供します。
実績のある優れた内蔵照明システムを搭載 「In-Sight 1740 シリーズ」リーダには、コグネックスの 従来製品であるIn-Sight 1720 シリーズリーダに搭載されている読みやすさを重視した明るい画像を生成することで定評のある内部照明システムが搭載されています。さらに、各種ウェハーのIDマークにおいて、ハイコントラストの暗視野画像を提供する外部LEDを内蔵したクラス最高の照明システムも搭載しています。 また、新しいタイプのウェハープロセス処理が開発されたことにより、外部照明拡張ポートから電源を供給する特殊照明を使って、新しい画像要件に対応するための拡張も可能になりました。赤外の照明を備えたモデルもラインナップされており、きわめて特殊なプロセス処理ウェハーにも対応します。
従来システムとも100%の互換性 「In-Sight 1740 シリーズ」リーダは、従来システムIn-Sight 1720 シリーズと 100% 互換性があります。 寸法、取り付け穴パターン、リモートコマンド設定が完全に同じであるため、現在 In-Sight 1720 シリーズリーダが使われている場所でもご利用いただけます。
新ソフトウェア「In-Sight Explorer Wafer ID (バージョン 4.5.0)」の新機能

悪条件下に対応する自動画像改善フィルタ。 読み取りエラーが発生しやすいような悪条件化であっても、自動画像改善フィルタの働きにより、オペレータの介入も必要ありません。
300mm ウェハーに採用されているSEMI M1.15 基準に従い、すべての 300mm ウェハーに対して T7 データマトリックスコードと OCR マークの両方の機能が使用可能。 コグネックスの新しい 4.5.0 ソフトウェアは、特許を保有するコグネックスの IDMax? テクノロジを採用して最初に T7 コードを読み取ることで SEMI M1.15 マークの読み取り能力が向上しています。OCR マークは、T7 コードが処理不能なほど劣化している場合のバックアップとして使用します。 最大の信頼性を保証するこのリーダは、設定がシンプルなため、メンテナンスも簡単です。
<発売開始時期およびプロモーション>

販売/出荷開始 : 2011年8月より開始
「In-Sight 1740シリーズ」についての詳細は、 www.cognex.co.jp/waferID をご覧ください。
 
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